Datei:Wafer prober service configuration.jpg
Originaldatei (1.500 × 1.165 Pixel, Dateigröße: 684 KB, MIME-Typ: image/jpeg)
Beschreibung
| Beschreibung |
English: An Electroglas 4090μ+ semiconductor wafer prober in service configuration, with test head, probe card, cover panels and other accessories removed. Internal parts are shown; the linear motor and platen, chuck and stage and material handling elements are shown. |
| Datum | |
| Quelle | MarTek, Inc. |
| Urheber | Ixnayonthetimmay |
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| aktuell | 10:27, 6. Okt. 2011 | Kein Vorschaubild vorhanden | 1.500 × 1.165 (684 KB) | wikimediacommons>Ixnayonthetimmay |
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